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名稱：平面平晶
型號：平面平晶
簡介：平面平晶：是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的平面度。平面平晶：用于檢定量塊的研
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名稱：NG-C2高精度鈉光燈箱(鈉光燈)
型號：NG-C2(鈉光燈)
簡介：NG-C2高精度鈉光燈箱(鈉光燈)主要和平面平晶配套使用，用于以干涉法檢驗塊規、量規、零件密封面、測量儀器以及測量工具量面的研合性和平面
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名稱：Φ30平面平晶
型號：Φ30
簡介：Φ30平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。亦可
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名稱：Φ45平面平晶
型號：Φ45
簡介：Φ45平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。亦可
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名稱：Φ60平面平晶
型號：Φ60平晶
簡介：Φ60平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。亦可
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名稱：Φ80平面平晶
型號：Φ80平晶
簡介：Φ80平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。亦可
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名稱：Φ100平面平晶
型號：Φ100平晶
簡介：Φ100平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。亦
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名稱：Φ150平面平晶
型號：Φ150平晶
簡介：Φ150平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。亦
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名稱：Φ200平面平晶
型號：Φ200平晶
簡介：Φ200平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。亦
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名稱：Φ250平面平晶
型號：Φ250平晶
簡介：Φ250平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。亦
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名稱：Φ300平面平晶
型號：Φ300平晶
簡介：Φ300平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。亦
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名稱：平行平晶0-25
型號：平晶0-25
簡介：平行平晶0-25用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規和千分尺卡規等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶：是以光波干涉原理為基
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名稱：平行平晶25-50
型號：平晶25-50
簡介：平行平晶25-50用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規和千分尺卡規等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶：是以光波干涉原理為
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名稱：平行平晶50-75
型號：平晶50-75
簡介：平行平晶50-75用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規和千分尺卡規等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶：是以光波干涉原理為
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名稱：平行平晶75-100
型號：平晶75-100
簡介：平行平晶75-100用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規和千分尺卡規等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶：是以光波干涉原理
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